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SE-VM光譜橢偏儀

詳細摘要：簡要描述：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀?？赏ㄟ^橢偏參數、透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速...
產品型號：SE-VM所在地：更新時間：2022-12-28 在線留言
SE-L光譜橢偏儀

詳細摘要：簡要描述：SE-L 是一款全自動高精度光譜橢偏儀，集眾多科技技術，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術，配置全自動測量模塊。
產品型號：SE-L所在地：更新時間：2022-12-27 在線留言
SE-Mapping光譜橢偏儀

詳細摘要：簡要描述：SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀。
產品型號：SE-Mapping所在地：更新時間：2022-12-26 在線留言
SE-VE光譜橢偏儀

詳細摘要：簡要描述：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。
產品型號：SE-VE所在地：更新時間：2022-12-23 在線留言